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愛德萬測試推新SOC測試分類機 明年Q1出貨
Nov 25th 2013, 01:25, by service.nownews@gmail.com (nownews)
【鉅亨網記者蔡宗憲 台北】
半導體測試設備大廠愛德萬測試(ATE-US)宣布,推出新一代系統單晶片元件測試分類機,分類機除維持愛德萬測試原有技術優勢,並提供最新先進功能,具備愛德萬測試獨有溫控(Tri-Temp)技術開發的高產能主動式熱控目視調準功能,所有資料也採全新視覺化架構,使用者只要透過網路就能即時監控測試機台生產進度,產品預計明年第 1 季開始交貨給客戶。
愛德萬推出新款單晶片元件測試分類機,代號M4871,愛德萬測試工廠自動化事業部長Hiroki Ikeda表示,這款全新分類機完整整合系統單晶片所需之各種測試功能。愛德萬表示,為協助客戶提高測試良率、加快測試週期時間,新一代M4871分類機加入目視調準功能,適合處理微細間距元件,及同時具有頂部和底部接觸結構的半導體元件,有效提升產能。
此外,在閒置時間方面,M4871也比過去縮短許多,有效測試作業時間 1 個月可多出20小時之多,使得整體設備效能(OEE)和元件成本獲得大幅改善;例如由於M4871採用最新熱控技術「雙液設計」,卡料所造成的作業閒置只需耗費最短的清理時間,反觀其他採用反應室設計的分類機,從反應室冷卻、清理卡料,到恢復運作溫度,整個過程至少需耗費60分鐘以上。
不僅如此,M4871分類機的優勢更在於可廣泛因應各種溫度測試需求,在攝氏零下10度環境下,M4871分類機能連續14天不中斷運作,無需進行除霜,減少系統定時維護工作。新一代M4871分類機基本配置的並行同測能力為前一代之 8 倍,每小時總測試產量最高可達8000個元件,現有客戶能直接升級,同時也降低耗電量、減少測試載具成本。
愛德萬指出,新一代M4871分類機預計在2014年第 1 季開始交貨給客戶。
『新聞來源/鉅亨網 http://news.cnyes.com/ 』
關鍵字: 財經 鉅亨網
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